量子电子学报

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国内刊号:34-1163/TN

国际刊号:1007-5461

量子电子学报杂志2023年第5期:电晕辐射成像仪测试平台研制及性能测试方法研究

发布日期:

作者:路永玲,王真,胡成博,杨景刚,卢航

单位:( 1 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院, 江苏 南京 211103;2 上海紫红光电技术有限公司, 上海 201600 )

关键词:紫外成像,电晕辐射成像仪,电晕放电,日盲法,性能测试,

电晕辐射成像仪在电力等领域已得到广泛应用, 为了实现对电晕放电等缺陷故障的精确定位检测, 建立了核心性能统一、科学可靠的测试平台和测试方法。首先, 对传统的电晕辐射成像仪高温黑体灵敏度测量法进行了关键性改进, 提出了一种新的基于标准日盲紫外光源和平行光管的测量方法, 通过光源、积分球及控制系统来实现光学成像测试、紫外灵敏度测试和带外抑制性测试。最后, 基于新方法研制了一套全新的电晕辐射成像仪光学成像性能、紫外灵敏度及带外抑制性能测试平台。研究结果表明: 所提出的测试方法和搭建的测试平台更易评估电晕辐射成像仪性能的真实情况, 满足电晕辐射成像仪实际测试的需求。

来源:2023年第5期

《量子电子学报》期刊编辑部

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