量子电子学报

作者：窦仁勤,罗建乔,刘文鹏,高进云,王小飞,何異,陈迎迎,张庆礼

单位：1 中国科学院合肥物质科学研究院安徽光学精密机械研究所, 安徽省光子器件与材料重点实验室, 安徽合肥230031;2 中国科学技术大学, 安徽合肥230026

关键词：材料,提拉法,Yb:YAG 晶体,X 射线荧光光谱法,分凝系数,

基金：Supported by National Natural Science Foundation of China (国家自然科学基金, 51802307), National Key Research and DevelopmentProgram of China (国家重点研发计划, 2016YFB0402101)

针对目前普遍存在的难以准确测定晶体组分的问题, 提出一种以YAG 晶体为标样、采用X 射线荧光光谱分析法准确测定晶体组分的方法。测试样品分别为纯YAG 晶体、生长原料掺杂浓度1.2 at% 和2.0 at% Yb:YAG 晶体, 采用X 射线荧光光谱分析法, 对不同浓度的Yb:YAG 晶体的组分进行了无损、快速、准确的测定。以纯YAG 晶体作为标准样品, 标定主成分的含量, 大幅提高了检测结果的准确度, 主成分Y3+ 和Al3+ 的测试误差小于1%、掺杂Yb3+ 的测试误差小于5%。通过晶体放肩初始部位Yb3+ 的浓度测定结果, 计算出Yb3+ 在两种待测晶体中的分凝系数分别为1.025 和1.045, 接近于1, 有利于实现Yb:YAG 晶体的高浓度掺杂以及优质晶体生长。2.0 at% Yb:YAG 晶体的首尾掺杂浓度差小于5%, 说明晶体等径部分掺杂浓度均匀性高。

来源：2021年第2期

《量子电子学报》期刊编辑部

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