量子电子学报

作者：尹航,洪占勇,丁传杨

单位：1安徽省航空结构件成形制造与装备实验室，安徽 合肥 230009；2合肥工业大学工业与装备技术研究院，安徽 合肥 230009；3科大国盾量子技术股份有限公司，安徽 合肥 230088

关键词：光电子学,性能测试系统,时间数字转换器,光子计数,单光子源,雪崩光电二极管,

基金：Supported by Project of Anhui Key Laboratory (安徽省重点实验室资助项目，W2018JSKF0065)

鉴于当前雪崩光电二极管(APD)测试平台存在设备冗杂、测试效率低等问题，设计了一套以现场可编程门阵列(FPGA)为控制核心，搭配高精度时间数字转换芯片TDC-GPX的APD性能测试系统，可实现APD性能参数的自动化测试。设计了一种稳定单光子脉冲信号输出方法，介绍了使用时间数字转换进行光子计数及数据处理、后脉冲参数计算的设计方案。通过实验验证，测试系统集成光源信号半峰全宽为46.6 ps，峰值幅度为304.4 mV，幅值抖动为3.7%，质量良好，满足APD测试对输入单光子源的要求；测试系统能够有效测试APD性能参数，测试效率得到了极大提升。

来源：2020年第3期

《量子电子学报》期刊编辑部

查看量子电子学报杂志2020年第3期